复旦大学原子层半导体抗辐射系统在轨验证成功 为太空算力发展破解关键难题

太空中充斥着高能粒子和宇宙射线,这些辐射会导致传统半导体器件性能下降甚至失效,成为制约深空探测和卫星应用的关键难题。统计数据显示,约23%的卫星故障与辐射损伤直接有关,而太空设备无法维修的特性意味着每次故障都可能造成数亿元的经济损失。

把实验室的材料与器件送上太空,是对创新能力和工程能力的双重考验。面对空间辐射此长期难题,从材料底层机制入手探索"轻量化抗辐射"路径,既满足了航天任务对可靠性的需求,也为在轨智能和高效数据利用打开了新的可能。随着更多在轨验证和工程化应用的推进,这类基础突破有望在深空探测中转化为可持续的技术支撑和发展动力。